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Das AdMOS 3002A Flicker Noise System ist eine technisch ausgereifte Lösung zur Analyse der Rauscheffekte von elektronischen Bauteilen und Systemen im niederen Frequenzbereich von 0.1Hz bis 10MHz. In diesem Bereich können die verschiedenen Rauscharten wie 1/f Rauschen, Schrotrauschen, Thermisches Rauschen und Random Telegraph Noise gemessen werden.
Das System besteht aus der 3012 Filter Unit, die möglichst nahe am zu messenden Objekt platziert werden sollte um Störungen durch lange Zuleitungen zu minimieren und der 3023 Control Unit. Diese besitzt einen integrierten Dynamic Signal Analyzer neuester Bauart (ADQ214-DCLN – Low-noise 14-bit Digitizer) der speziell für diesen Typ von Messungen vorgesehen ist. neben einem erweiterten Frequenzbereich von 0.1Hz–10MHz können damit auch kurze Messzeiten und eine genaue Auflösung der Rauschsignale realisiert werden. Weiterhin koppelt die Control-Unit das Messgerät an einen Windows® PC, auf dem die Steuersoftware installiert ist.
Gebrauchsfertige Vorlagen in der Steuersoftware, die flexibel modifiziert werden können, erlauben die Messung von FETs (CMOS, HVMOS, OTFT, ..), Bipolartransistoren, Dioden, Widerständen und anderen Bauteilen auf Wafern oder im verpackten Zustand. Zusätzlich kann das Rauschverhalten ganzer Schaltungen, wie z.B. von Verstärkern, getestet werden.
Das Rauschmesssystem ist so konzipiert, dass es automatisch die optimale Einstellung für die höchste Genauigkeit der Rauschmessung in Abhängigkeit des gewählten DC Arbeitspunktes des Messobjekts bestimmt. Diese Einstellung kann so modifiziert werden, dass der Fokus auf höherem Durchsatz bei der Messung bei gleichzeitig reduzierter Auflösung liegt.
Das Messsystem wird durch eine neuartige und intuitive Software unter Windows® gesteuert. Neben der Basisoption zur Rauschmessung gibt es Erweiterungen zur Steuerung einer halbautomatischen WaferProbe Station sowie zur Messung des DC- und Kapazitäts-Spannungs-Verhaltens von Bauteilen.
