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Niederfrequenz Rauschmesssysteme

Die AdMOS Niederfrequenz Rauschmesssysteme sind eine technisch ausgereifte Lösung zur Analyse der Rauscheffekte von elektronischen Bauteilen und Systemen im niederen Frequenzbereich von 0,1Hz bis 10MHz. In diesem Bereich können die verschiedenen Rauscharten wie 1/f Rauschen, Schrotrauschen, Thermisches Rauschen und Random Telegraph Noise gemessen werden.

Die Systeme bestehen aus der 3012 Filter Unit, die möglichst nahe am zu messenden Objekt platziert werden sollte um Störungen durch lange Zuleitungen zu minimieren. Die 3022/3023 Control Unit koppelt das System an einen normalen PC auf dem die Steuersoftware installiert ist.

Gebrauchsfertige Vorlagen in der Steuersoftware, die flexibel modifiziert werden können, erlauben die Messung von FETs (CMOS, HVMOS, OTFT, ..), Bipolartransistoren, Dioden, Widerständen und anderen Bauteilen auf Wafern oder im verpackten Zustand. Zusätzlich kann das Rauschverhalten ganzer Schaltungen, wie z.B. von Verstärkern, getestet werden.

Das System ist so konzipiert, dass es automatisch die optimale Einstellung für die höchste Genauigkeit der Rauschmessung in Abhängigkeit des gewählten DC Arbeitspunktes des Messobjekts bestimmt. Diese Einstellung kann so modifiziert werden, dass der Fokus auf höherem Durchsatz bei der Messung bei gleichzeitig reduzierter Auflösung liegt.

Das Messsystem wird durch eine neuartige und intuitive Steuersoftware unter Windows® gesteuert. Neben der Basisoption zur Rauschmessung gibt es Erweiterungen zur Steuerung einer halbautomatischen WaferProbe Station sowie zur Messung des DC- und Kapazitäts-Spannungs-Verhaltens von Bauteilen.

AdMOS bietet zwei Systeme an:

Das AdMOS 3002A Flicker Noise System besitzt einen integrierten Dynamic Signal Analyzer in der Control Unit 3023 und bietet neben einem erweiterten Frequenzbereich von 0.1Hz–10MHz auch kürzere Messzeiten und eine genauere Auflösung der Rauschsignale.

pdf AdMOS 3002A Flicker Noise System

Das 3001B Flicker Noise System verwendet einen externen Dynamic Signal Analyzer (35670A) zur Erfassung der Rauschspannung im Bereich von 1Hz-100kHz.

pdf AdMOS 3001B Flicker Noise System

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